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測厚儀是一種高精度的測量設(shè)備，專門用于測定各種薄膜、薄片、紙張、箔片等材料的厚度。這類儀器在包裝、塑料、造紙、電子、半導(dǎo)體等行業(yè)中至關(guān)重要，確保產(chǎn)品的一致性和質(zhì)量控制。
泉科瑞達薄膜測厚儀設(shè)計遵循如GB/T6672等國家標準，分辨率可達0.01μm，適用于不同硬度的薄膜。
CHY-02H薄膜測厚儀
CHY-03測厚儀(自動進樣)
CHY-02B測厚儀
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